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出版时间：2021-03

出版社：西安电子科技大学出版社

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基本信息 评价
  • 西安电子科技大学出版社
  • 9787560659541
  • 1-1
  • 375010
  • 66224261-9
  • 平装
  • 16开
  • 2021-03
  • 304
  • 208
  • 工学
  • 计算机科学与技术
  • TN407
  • 数理科学和化学
  • 高职
内容简介
本书是从微电子产业实际岗位需求出发，结合作者多年企业工作经验及一线教学经验编写而成的。书中详细介绍了目前业界常见的各类集成电路芯片的测试原理、测试方法以及测试程序的编写，具体包括各类组合/时序逻辑电路测试、ADC/DAC芯片测试、存储器/微控制器测试、集成运放/电源管理芯片测试等，同时还介绍了晶圆探针台、测试机的使用。
本书可作为高职院校微电子技术专业的核心课程教材，也可作为全国职业院校技能大赛“集成电路开发及应用”赛项的备赛训练参考教材。
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